Zobrazeno 1 - 10
of 20
pro vyhledávání: '"Gao, Si Tian"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Optoelectronics Letters; Mar2021, Vol. 17 Issue 3, p170-175, 6p
Publikováno v:
Optics and Precision Engineering. 22:2399-2405
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::9f6d36d160775a9e3cf6dd3ce97c65e2
https://doi.org/10.3788/ope.20142209.2399
https://doi.org/10.3788/ope.20142209.2399
Publikováno v:
Proceedings of SPIE; 4/26/2019, Vol. 11053, p1-8, 8p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Optics and Precision Engineering. 20:796-802
For characterizing the nanostructure and controlling nano-manufacturing quality,a metrological Atomic Force Microscope(AFM) was designed and constructed in National Institute of Metrology.To trace the displacement to the SI unit,the relative position
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::b2b3b5466fd1c71579de057d4abb0ec5
https://doi.org/10.3788/ope.20122004.0796
https://doi.org/10.3788/ope.20122004.0796
Autor:
沈小燕 Shen Xiao-yan, 朱振东 Zhu Zhendong, 高思田 Gao Si-tian, 蔡晋辉 Cai Jin-hui, 胡佳成 Hu Jia-cheng, 刘续 Liu Xu
Publikováno v:
ACTA PHOTONICA SINICA. 46:1029003
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::db99a27404c1d38b4db4505f7da4abd9
https://doi.org/10.3788/gzxb20174610.1029003
https://doi.org/10.3788/gzxb20174610.1029003
Autor:
王雪深 Wang Xueshen, 高思田 Gao Si-tian, 谭峭峰 Tan Qiaofeng, 李群庆 Li Qunqing, 朱振东 Zhu Zhendong, 白本锋 Bai Benfeng
Publikováno v:
Infrared and Laser Engineering. 46:934001
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::af65c8fb13648330503d1a6fcfe26efb
https://doi.org/10.3788/irla201746.0934001
https://doi.org/10.3788/irla201746.0934001
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Cui Jian-Jun, Gao Si-Tian
Publikováno v:
Acta Physica Sinica. 63:060601
To realize metrology of the nanometer thin film thickness with high accuracy, a series of the nanometer film thickness standard samples with single layer is developed which could be measured by contact instruments such as stylus contact surface step
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::45b4bd1df8beab784254d63048a9aed6
https://doi.org/10.7498/aps.63.060601
https://doi.org/10.7498/aps.63.060601