Zobrazeno 1 - 10
of 22
pro vyhledávání: '"Gao, Si Tian"'
Publikováno v:
Optoelectronics Letters; Mar2021, Vol. 17 Issue 3, p170-175, 6p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Proceedings of SPIE; 4/26/2019, Vol. 11053, p1-8, 8p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Optics and Precision Engineering. 22:2399-2405
Publikováno v:
Optics and Precision Engineering. 20:796-802
For characterizing the nanostructure and controlling nano-manufacturing quality,a metrological Atomic Force Microscope(AFM) was designed and constructed in National Institute of Metrology.To trace the displacement to the SI unit,the relative position
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
沈小燕 Shen Xiao-yan, 朱振东 Zhu Zhendong, 高思田 Gao Si-tian, 蔡晋辉 Cai Jin-hui, 胡佳成 Hu Jia-cheng, 刘续 Liu Xu
Publikováno v:
ACTA PHOTONICA SINICA. 46:1029003
Autor:
王雪深 Wang Xueshen, 高思田 Gao Si-tian, 谭峭峰 Tan Qiaofeng, 李群庆 Li Qunqing, 朱振东 Zhu Zhendong, 白本锋 Bai Benfeng
Publikováno v:
Infrared and Laser Engineering. 46:934001
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.