Zobrazeno 1 - 10
of 60
pro vyhledávání: '"Gao, Ming-Yuan"'
Autor:
Xie, Meng-Yu, Niu, Su-Jian, Han, Zhao-Qi-Zhi, Li, Yin-Hai, Chen, Ren-Hui, Wang, Xiao-Hua, Gao, Ming-Yuan, Chen, Li, Song, Yue-Wei, Zhou, Zhi-Yuan, Shi, Bao-Sen
Polarimetric imaging, a technique that captures the invisible polarization-related properties of given materials, has broad applications from fundamental physics to advanced fields such as target recognition, stress detection, biomedical diagnosis an
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2408.04183
Autor:
Chen, Li, Ge, Zheng, Niu, Su-Jian, Li, Yin-Hai, Han, Zhao-Qi-Zhi, Song, Yue-Wei, Li, Wu-Zhen, Chen, Ren-Hui, Gao, Ming-Yuan, Xie, Meng-Yu, Zhou, Zhi-Yuan, Shi, Bao-Sen
Four wave mixing (FWM) is an important way to generate supercontinuum and frequency combs in the mid-infrared band. Here, we obtain simultaneous synthetic FWM in the visible and mid-infrared bands by cascading quadratic nonlinear processes in a perio
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2403.06927
Autor:
Gao, Ming-Yuan, Li, Yin-Hai, Han, Zhao-Qi-Zhi, Zhou, Qiang, Guo, Guang-Can, Zhou, Zhi-Yuan, Shi, Bao-Sen
Entanglement enables many promising applications in quantum technology. Devising new generation methods and harnessing entanglement are prerequisites for practical applications. Here we realize a distinct polarization-entangled source by simultaneous
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2402.18404
Autor:
Gao, Ming-Yuan, Li, Yin-Hai, Li, Yan, Zhou, Zhenghe, Guo, Guang-Can, Zhou, Zhi-Yuan, Shi, Bao-Sen
A high-quality narrowband polarization-entangled source in the telecom band is preferred to avoid frequency dispersion for long-distance transmission in optical fibers and to efficiently couple with telecom band quantum memories. Here, we report narr
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2402.18802
Autor:
Xie, Meng-Yu, Niu, Su-Jian, Li, Yin-Hai, Ge, Zheng, Gao, Ming-Yuan, Han, Zhao-Qi-Zhi, Chen, Ren-Hui, Zhou, Zhi-Yuan, Shi, Bao-Sen
An ellipsometer is a vital precision tool used for measuring optical parameters with wide applications in many fields, including accurate measurements in film thickness, optical constants, structural profiles, etc. However, the precise measurement of
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2402.17401
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
In Materials Today Communications March 2021 26