Zobrazeno 1 - 10
of 314
pro vyhledávání: '"Ganguly, Swaroop"'
Modern semiconductors innovation has a strong relation to scale and skill. While India has a significant demand for semiconductors, it has a daunting challenge to create a semiconductor ecosystem. Yet, India has quietly come a long way. Starting with
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2011.11251
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Rai, Narendra, Sarkar, Ritam, Mahajan, Ashutosh, Laha, Apurba, Saha, Dipankar, Ganguly, Swaroop
Publikováno v:
Journal of Applied Physics; 12/28/2023, Vol. 134 Issue 24, p1-12, 12p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
In Solid State Electronics January 2023 199
Autor:
Sharma, Kapil K., Ganguly, Swaroop
Publikováno v:
EPJ Web Conf. Volume 198, 2019
In the present paper, we study spin squeezing under decoherence in the superposition of tripartite maximally entangled GHZ and W states. Here we use amplitude damping, phase damping and depolarisation channel. We have investigated the dynamics of spi
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/1806.01730
Publikováno v:
Phys. Rev. Applied 10, 034070 (2018)
Vertical stacks of two-dimensional (2D) materials, separated by the van der Waals gap and held together by the van der Waals forces, are immensely promising for a plethora of nanotechnological applications. Charge control in these stacks may be model
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/1803.10009
Estimation of threshold voltage V T variability for NWFETs has been compu- tationally expensive due to lack of analytical models. Variability estimation of NWFET is essential to design the next generation logic circuits. Compared to any other process
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/1801.00935
Publikováno v:
In Solid State Electronics November 2022 197