Zobrazeno 1 - 10
of 322
pro vyhledávání: '"Gambino, J."'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
International Statistical Review / Revue Internationale de Statistique, 2001 Dec 01. 69(3), 461-485.
Externí odkaz:
https://www.jstor.org/stable/1403457
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Mueller, D., Fella, Christian, Altmann, Frank, Graetz, Jonas, Balles, Andreas, Ring, M., Gambino, J.
Publikováno v:
Microelectronics Reliability. 135:114589
Power devices for automotive products are exposed to higher temperatures, currents, and voltages than common semiconductors. These devices are subject to large variations in the nominal power supply voltage. Power-Temperature Cycling (PTC) is an impo
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::07a4f58aea5fece7b8f0bc8850a83e37
https://doi.org/10.1016/j.microrel.2022.114589
https://doi.org/10.1016/j.microrel.2022.114589
Autor:
Gambino, J. J., Lindberg, R. G.
Publikováno v:
Radiation Research, 1964 Aug 01. 22(4), 586-597.
Externí odkaz:
https://www.jstor.org/stable/3571541
Publikováno v:
Radiation Research, 1962 Jan 01. 16(1), 54-65.
Externí odkaz:
https://www.jstor.org/stable/3571129
Publikováno v:
Radiation Research, 1963 Mar 01. 18(3), 255-264.
Externí odkaz:
https://www.jstor.org/stable/3571493
Publikováno v:
Journal of Mammalogy, 1966 Aug 01. 47(3), 412-423.
Externí odkaz:
https://www.jstor.org/stable/1377682
Autor:
Gambino, J., Wynne, J., Gill, J., Mongeon, S., Meatyard, D., Lee, B., Bamnolker, H., Hall, L., Li, N., Hernandez, M., Little, P., Hamed, M., Ivanov, I., Gan, C.L.
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 2006 83(11):2059-2067
Autor:
Springer, H. Keo, Gambino, J. R., Bastea, S., Nichols, A. L., Tarver, C. M., Lane, J. Matthew D., Germann, Timothy C., Armstrong, Michael R., Wixom, Ryan, Damm, David, Zaug, Joseph
Publikováno v:
AIP Conference Proceedings; 2020, Vol. 2272 Issue 1, p1-5, 5p