Zobrazeno 1 - 8
of 8
pro vyhledávání: '"Galbierz, V."'
Autor:
Chakrabarti, P., Wildeis, A., Hartmann, M., Brandt, R., Döhrmann, R., Fevola, G., Ossig, C., Stuckelberger, M. E., Garrevoet, J., Falch, K. V., Galbierz, V., Falkenberg, G., Modregger, P.
X-ray diffraction with high spatial resolution is commonly used to characterize (poly-)crystalline samples with, for example, respect to local strain, residual stress, grain boundaries and texture. However, the investigation of highly absorbing sampl
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2201.13264
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Gräfenstein, A., Brückner, D., Rumancev, C., Garrevoet, J., Galbierz, V., Schroeder, W. H., Schroer, C. G., Falkenberg, G., Rosenhahn, A.
Publikováno v:
Analytical Chemistry; 7/11/2023, Vol. 95 Issue 27, p10186-10195, 10p
Autor:
Gräfenstein, A., Brückner, D., Rumancev, C., Garrevoet, J., Galbierz, V., Schroeder, W. H., Schroer, C. G., Falkenberg, G., Rosenhahn, A.
Publikováno v:
Analytical Chemistry; July 2023, Vol. 95 Issue: 27 p10186-10195, 10p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Chakrabarti P; Physics Department, University of Siegen, 57072 Siegen, Germany., Wildeis A; Mechanical Engineering Department, University of Siegen, 57076 Siegen, Germany., Hartmann M; Mechanical Engineering Department, University of Siegen, 57076 Siegen, Germany., Brandt R; Mechanical Engineering Department, University of Siegen, 57076 Siegen, Germany., Döhrmann R; Center for X-ray and Nano Science CXNS, Deutsches Elektronen-Synchrotron DESY, 22607 Hamburg, Germany., Fevola G; Center for X-ray and Nano Science CXNS, Deutsches Elektronen-Synchrotron DESY, 22607 Hamburg, Germany., Ossig C; Center for X-ray and Nano Science CXNS, Deutsches Elektronen-Synchrotron DESY, 22607 Hamburg, Germany., Stuckelberger ME; Center for X-ray and Nano Science CXNS, Deutsches Elektronen-Synchrotron DESY, 22607 Hamburg, Germany., Garrevoet J; Deutsches Elektronen-Synchrotron DESY, 22607 Hamburg, Germany., Falch KV; Deutsches Elektronen-Synchrotron DESY, 22607 Hamburg, Germany., Galbierz V; Deutsches Elektronen-Synchrotron DESY, 22607 Hamburg, Germany., Falkenberg G; Deutsches Elektronen-Synchrotron DESY, 22607 Hamburg, Germany., Modregger P; Physics Department, University of Siegen, 57072 Siegen, Germany.
Publikováno v:
Journal of synchrotron radiation [J Synchrotron Radiat] 2022 Nov 01; Vol. 29 (Pt 6), pp. 1407-1413. Date of Electronic Publication: 2022 Oct 05.