Modélisation du test Cem BCI sous contrainte DO160 & validation avec des mesures

Autor: Diop, Mor Sokhna, Clavel, Edith, Cheaito, Hassan, Vollaire, Christian, Kedzia, J.C., Malnoult, P., Gainetdinoff, B., Mutel, L., Ambroise, A., Vialardi, Enrico

Publikováno v: Actes du 19ème Colloque International et Exposition sur la Compatibilité ÉlectroMagnétique
CEM ParisCEM
CEM ParisCEM, Jul 2018, Paris, France

International audience; Le test BCI (Bulk Current Injection) utilisé enCEM étant très sensible à sa mise en oeuvre et desconfigurations multiples et variées pouvant se rencontrer,le recours à la simulation devient incontournable. Lamodélisatio

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