Zobrazeno 1 - 10
of 14
pro vyhledávání: '"Gaidioz, David"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Gaidioz, David
Publikováno v:
Electronics. Université de Bordeaux, 2021. English. ⟨NNT : 2021BORD0135⟩
More than twenty billion of connected devices are predicted in the coming years, the Internet-of-Things (IoT) is a common reality of our day-to-day lives. Concerning a connected object, two critical parameters have to be taken into account: the power
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::1630ec74005fee698f975a168ac7e15b
https://tel.archives-ouvertes.fr/tel-03336167/document
https://tel.archives-ouvertes.fr/tel-03336167/document
Autor:
Tochou, Guillaume, Benarrouch, Robin, Gaidioz, David, Cathelin, Andreia, Frappe, Antoine, Kaiser, Andreas, Rabaey, Jan
Publikováno v:
IEEE Journal of Solid-State Circuits; May2022, Vol. 57 Issue 5, p1409-1420, 12p
Publikováno v:
XXIe Journees Nationales Micro-ondes (JNM 2019)
XXIe Journees Nationales Micro-ondes (JNM 2019), May 2019, Caen, France
XXIe Journees Nationales Micro-ondes (JNM 2019), May 2019, Caen, France
National audience
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::dcbd312769ad9c654b4e42b8f200aaaa
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02281011
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02281011
Publikováno v:
IEEE Microwave Magazine; Jun2018, Vol. 19 Issue 4, p122-124, 3p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Dumont, Romane, Gaidioz, David
Publikováno v:
IEEE Solid-State Circuits Magazine; Winter2020, Vol. 12 Issue 1, p54-55, 2p
Autor:
Gaidioz, David
Publikováno v:
IEEE Solid-State Circuits Magazine; Spring2018, Vol. 10 Issue 2, p61-62, 2p