Zobrazeno 1 - 10
of 20
pro vyhledávání: '"GaN Gate Driver"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Electronics; Volume 12; Issue 1; Pages: 211
This paper presents an adaptive dead-time control circuit for a maximum work frequency 20 MHz, maximum voltage level 90 V GaN gate driver. The dead-time is set to prevent straight-through of the upper and lower power transistors of the bridge arm str
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
The extended use of Gallium Nitride (GaN) transistors in power applications, such as automotive, industrial and power distribution, leads practitioners and researchers to a review of the classical driving techniques, to meet the different characteris
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::ea49a064d53512ef678687a66304f495
http://hdl.handle.net/11583/2756652
http://hdl.handle.net/11583/2756652
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Jeremy J. O. Dalton, Dawei Liu, David Drury, Harry C. P. Dymond, Jianjing Wang, Mohammad H. Hedayati, Bernard H. Stark
Publikováno v:
Dalton, J, Dymond, H C P, Wang, J, Hedayati, M, Liu, D, Drury, D & Stark, B H 2019, Stretching in Time of GaN Active Gate Driving Profiles to Adapt to Changing Load Current . in 2018 IEEE Energy Conversion Congress and Exposition (ECCE 2018) : Proceedings of a meeting held 23-27 September 2018, Portland, Oregon, USA ., 8557531, 2018 IEEE Energy Conversion Congress and Exposition, ECCE 2018, Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), pp. 3497-3502 . https://doi.org/10.1109/ECCE.2018.8557531
Active gate driving, where the gate signal is actively profiled, has been shown to reduce EMI, overshoot, and switching loss, in silicon power converters. Recently, much faster gate drivers with the ability to profile at a 100 ps resolution have been
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.