Zobrazeno 1 - 10
of 2 043
pro vyhledávání: '"GROESENEKEN, G"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
The defect-centric perspective of device and circuit reliability—From gate oxide defects to circuits
Autor:
Kaczer, B., Franco, J., Weckx, P., Roussel, Ph.J., Simicic, M., Putcha, V., Bury, E., Cho, M., Degraeve, R., Linten, D., Groeseneken, G., Debacker, P., Parvais, B., Raghavan, P., Catthoor, F., Rzepa, G., Waltl, M., Goes, W., Grasser, T.
Publikováno v:
In Solid State Electronics November 2016 125:52-62
Publikováno v:
In Solid State Electronics November 2016 125:198-203
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Hu, J., Stoffels, S., Lenci, S., Ronchi, N., Venegas, R., You, S., Bakeroot, B., Groeseneken, G., Decoutere, S.
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability September-October 2014 54(9-10):2196-2199
Autor:
Hatta, S.W.M., Ji, Z., Zhang, J.F., Zhang, W.D., Soin, N., Kaczer, B., Gendt, S.D., Groeseneken, G.
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability September-October 2014 54(9-10):2329-2333
Autor:
Chen, Y.Y., Goux, L., Pantisano, L., Swerts, J., Adelmann, C., Mertens, S., Afanasiev, V.V., Wang, X.P., Govoreanu, B., Degraeve, R., Kubicek, S., Paraschiv, V., Verbrugge, B., Jossart, N., Altimime, L., Jurczak, M., Kittl, J., Groeseneken, G., Wouters, D.J.
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering December 2013 112:92-96
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering September 2013 109:123-125
Autor:
Raghavan, N., Fantini, A., Degraeve, R., Roussel, P.J., Goux, L., Govoreanu, B., Wouters, D.J., Groeseneken, G., Jurczak, M.
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering September 2013 109:177-181
Autor:
Ma, J., Zhang, J.F., Ji, Z., Benbakhti, B., Duan, M., Zhang, W., Zheng, X.F., Mitard, J., Kaczer, B., Groeseneken, G., Hall, S., Robertson, J., Chalker, P.
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering September 2013 109:43-45