Zobrazeno 1 - 10
of 100
pro vyhledávání: '"GOROSHKO, D. L."'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Andrievskii, V. V., Komnik, Yu. F., Berkutov, I. B., Mirzoiev, I. G., Galkin, N. G., Goroshko, D. L.
Publikováno v:
Physics Status Solidi B 251 601 (2014)
The behaviors of resistance, magnetoresistance (up to 5 T), and Hall electromotive force (EMF) with varying temperature (from 10 to 300 K) and measuring current (from 10 mkA to 10 mA) are studied for the Si sample with CrSi2 nanocrystallites (NC) in
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/1410.3332
Autor:
Goroshko, D. L.1 (AUTHOR) goroshko@iacp.dvo.ru, Gavrilin, I. M.2 (AUTHOR), Dronov, A. A.2 (AUTHOR), Goroshko, O. A.1 (AUTHOR), Volkova, L. S.3 (AUTHOR), Grevtsov, N. L.4 (AUTHOR), Chubenko, E. B.4 (AUTHOR), Bondarenko, V. P.4 (AUTHOR)
Publikováno v:
Semiconductors. Jan2023, Vol. 57 Issue 1, p46-51. 6p.
Autor:
Galkin, N. G., Chernev, I. M., Subbotin, E. Yu., Goroshko, O. A., Dotsenko, S. A., Maslov, A. M., Galkin, K. N., Kropachev, O. V., Goroshko, D. L., Samardak, A. Yu., Gerasimenko, A. V., Argunov, E. V.
Publikováno v:
Journal of Surface Investigation: X-Ray, Synchrotron & Neutron Techniques; Apr2024, Vol. 18 Issue 2, p372-383, 12p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Chernev, I. M., Gouralnik, A. S., Subbotin, E. Yu., Galkin, K. N., Kropachev, O. V., Goroshko, D. L., Goroshko, O. A., Gerasimenko, A. V., Lisenkov, O. E., Galkin, N. G.
Publikováno v:
Bulletin of the Russian Academy of Sciences: Physics; 2023 Suppl 4, Vol. 87, pS370-S374, 5p
Publikováno v:
Bulletin of the Russian Academy of Sciences: Physics; 2023 Suppl 1, Vol. 87, pS29-S35, 7p
Autor:
Galkin, N. G., Galkin, K. N., Kropachev, O. V., Maslov, A. M., Chernev, I. M., Subbotin, E. Yu., Goroshko, D. L.
Publikováno v:
Optoelectronics Instrumentation & Data Processing; Dec2023, Vol. 59 Issue 6, p667-676, 10p
Publikováno v:
Optoelectronics Instrumentation & Data Processing; Dec2023, Vol. 59 Issue 6, p727-734, 8p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.