Zobrazeno 1 - 5
of 5
pro vyhledávání: '"G.T. Stubbendieck"'
Autor:
G.T. Stubbendieck, M.J. Mausbach
Publikováno v:
Soil Survey Techniques
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::14289150d4cfd48ba88effe8b313a42b
https://doi.org/10.2136/sssaspecpub20.c3
https://doi.org/10.2136/sssaspecpub20.c3
Autor:
G.T. Stubbendieck, W.J.B. Oldham
Publikováno v:
[Proceedings 1992] IJCNN International Joint Conference on Neural Networks.
The authors present a feature extraction method for detecting flaws in silicon wafers based on the idea of fractal dimension. They begin by discussing why fractal dimension is a good way to model wafer surface images. They then describe how to calcul
Kniha
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.