Zobrazeno 1 - 10
of 42
pro vyhledávání: '"G.M. Yu"'
Autor:
L.J. Sun, X.X. Xu, S.Q. Hou, C.J. Lin, J. José, J. Lee, J.J. He, Z.H. Li, J.S. Wang, C.X. Yuan, F. Herwig, J. Keegans, T. Budner, D.X. Wang, H.Y. Wu, P.F. Liang, Y.Y. Yang, Y.H. Lam, P. Ma, F.F. Duan, Z.H. Gao, Q. Hu, Z. Bai, J.B. Ma, J.G. Wang, F.P. Zhong, C.G. Wu, D.W. Luo, Y. Jiang, Y. Liu, D.S. Hou, R. Li, N.R. Ma, W.H. Ma, G.Z. Shi, G.M. Yu, D. Patel, S.Y. Jin, Y.F. Wang, Y.C. Yu, Q.W. Zhou, P. Wang, L.Y. Hu, X. Wang, H.L. Zang, P.J. Li, Q.Q. Zhao, H.M. Jia, L. Yang, P.W. Wen, F. Yang, M. Pan, X.Y. Wang, Z.G. Hu, R.F. Chen, M.L. Liu, W.Q. Yang, Y.M. Zhao
Publikováno v:
Physics Letters B, Vol 802, Iss , Pp - (2020)
The mass of 27P is expected to impact the X-ray burst (XRB) model predictions of burst light curves and the composition of the burst ashes, but large uncertainties and inconsistencies still exist in the reported 27P masses. We have used the β-decay
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/ea945c737bc94bfcb6fb010514d3f043
Selected, peer reviewed papers from the 2nd International Conference on Mechanical Design, Manufacturing and Automation (ICMDMA 2014), December 27-28, 2014, Huanggang, Hubei, China
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Mining Science and Technology ISBN: 9780429215681
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::fe90387a772e026f9da318d63b49b107
https://doi.org/10.1201/9780203022528-115
https://doi.org/10.1201/9780203022528-115
Publikováno v:
International Electron Devices Meeting 1998. Technical Digest (Cat. No.98CH36217).
We present two new sample preparation techniques for scanning capacitance microscope (SCM) measurements. These techniques can produce high quality, low noise, raw SCM data of the cross-sectional source/drain and of the surface channel profile in a re
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.