Zobrazeno 1 - 10
of 21
pro vyhledávání: '"G.A. Gruber"'
Autor:
S. Taiti, G.A. Gruber
Publikováno v:
Tropical zoology (Testo stamp.) 23 (2010): 205–230.
info:cnr-pdr/source/autori:S. Taiti; G.A. Gruber/titolo:The genus Tuberillo Schultz 1982 (Crustacea Oniscidea Armadillidae) with descriptions of four new species./doi:/rivista:Tropical zoology (Testo stamp.)/anno:2010/pagina_da:205/pagina_a:230/intervallo_pagine:205–230/volume:23
info:cnr-pdr/source/autori:S. Taiti; G.A. Gruber/titolo:The genus Tuberillo Schultz 1982 (Crustacea Oniscidea Armadillidae) with descriptions of four new species./doi:/rivista:Tropical zoology (Testo stamp.)/anno:2010/pagina_da:205/pagina_a:230/intervallo_pagine:205–230/volume:23
Six species of Tuberillo Schultz 1982 have been examined and a new diagnosis of the genus is given. The type specimens of T. sarawakensis Schultz 1982 and T. jubatus Herold 1931 are illustrated and four species are described as new: T. schawalleri fr
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=cnr_________::6c71b0fa4c39521f0c0c73bff19777ef
http://www.cnr.it/prodotto/i/53176
http://www.cnr.it/prodotto/i/53176
Publikováno v:
Proceedings of 11th International Conference on Ion Implantation Technology.
Variations in V/sub T/-adjust implant dose from the center to edge of 200 mm wafers are investigated for both furnace and rapid thermal anneals using highly accurate in-line Hg-probe pulsed C-V measurements. Solid-state diffusion theory is used to ve
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::b9b8e41cf0751be366afeceed89f9085
https://doi.org/10.1109/iit.1996.586192
https://doi.org/10.1109/iit.1996.586192
Autor:
J.W. Ostroski, G.A. Gruber, J.E. Johnson, D.M. Gillott, B.J. Coverston, K.S. Tarneja, R.R. Verderber
Publikováno v:
IEEE Transactions on Electron Devices. 17:797-799
High-power mesa-type rectifiers were passivated with successive layers of SiO 2 and Si 3 N 4 by a low-temperature chemical vapor deposition technique. Reverse I-V characteristics, high-temperature yield, ancl blocking life test results are compared w
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::85d1918a2af5f61d0c77d93071bb7e60
https://doi.org/10.1109/t-ed.1970.17076
https://doi.org/10.1109/t-ed.1970.17076
Publikováno v:
IEEE Transactions on Electron Devices. :672-672
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::cbe7ee0587edfd4a3a7e178974b54ed4
https://doi.org/10.1109/t-ed.1966.15768
https://doi.org/10.1109/t-ed.1966.15768
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.