Zobrazeno 1 - 10
of 192
pro vyhledávání: '"G. Ruani"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
XLVI Congresso AIC-Associazione italiana cristallografia, 26-29/06/2017
info:cnr-pdr/source/autori:M. Goudjil, E. Lunedei, L. Bindi, P. Bonazzi, G. Ruani, F. Mercuri, D. Mezaoui/congresso_nome:XLVI Congresso AIC-Associazione italiana cristallografia/congresso_luogo:/congresso_data:26-29%2F06%2F2017/anno:2017/pagina_da:/pagina_a:/intervallo_pagine
info:cnr-pdr/source/autori:M. Goudjil, E. Lunedei, L. Bindi, P. Bonazzi, G. Ruani, F. Mercuri, D. Mezaoui/congresso_nome:XLVI Congresso AIC-Associazione italiana cristallografia/congresso_luogo:/congresso_data:26-29%2F06%2F2017/anno:2017/pagina_da:/pagina_a:/intervallo_pagine
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=cnr_________::5db3a51d1c44001a2af7864707cb44b1
http://www.cnr.it/prodotto/i/383395
http://www.cnr.it/prodotto/i/383395
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Caterina Summonte, Rita Rizzoli, F. Zignani, Juan Carlos Plá, G. Ruani, A. Desalvo, E. Centurioni
Publikováno v:
Thin solid films
383 (2001): 7–10. doi:10.1016/S0040-6090(00)01595-9
info:cnr-pdr/source/autori:R. Rizzoli; C. Summonte; J. Pla'; E. Centurioni; G. Ruani; A. Desalvo; F. Zignani/titolo:Ultrathin microc-Si films deposited by PECVD/doi:10.1016%2FS0040-6090(00)01595-9/rivista:Thin solid films (Print)/anno:2001/pagina_da:7/pagina_a:10/intervallo_pagine:7–10/volume:383
383 (2001): 7–10. doi:10.1016/S0040-6090(00)01595-9
info:cnr-pdr/source/autori:R. Rizzoli; C. Summonte; J. Pla'; E. Centurioni; G. Ruani; A. Desalvo; F. Zignani/titolo:Ultrathin microc-Si films deposited by PECVD/doi:10.1016%2FS0040-6090(00)01595-9/rivista:Thin solid films (Print)/anno:2001/pagina_da:7/pagina_a:10/intervallo_pagine:7–10/volume:383
The crystalline fraction of microcrystalline silicon films 18–200 nm thick, deposited by VHF plasma and by chemical transport deposition (CTD) was characterized by Raman and optical measurements. On a p-type CTD sample, thinner than 20 nm, a crysta