Zobrazeno 1 - 2
of 2
pro vyhledávání: '"G. Georgelin"'
Publikováno v:
Proceedings of the 9th International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (Cat. No.02TH8614).
We present results of failure and reliability investigations on silicon Micro Scanning Mirrors. The electrical insulation resistance, mechanical shock resistance and long-run stability were characterized. By design optimization including a combinatio
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::2d2a802f303d0212b07cc042c7785c6d
https://doi.org/10.1109/ipfa.2002.1025665
https://doi.org/10.1109/ipfa.2002.1025665
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.