Zobrazeno 1 - 10
of 117
pro vyhledávání: '"G. Gasiot"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
J. L. Autran, S. Moindjie, D. Munteanu, M. Dentan, P. Moreau, F. P. Pellissier, J. Bucalossi, G. Borgese, V. Malherbe, T. Thery, G. Gasiot, P. Roche
Publikováno v:
IEEE Nuclear and Space Radiation Effects Conference (NSREC 2021)
IEEE Nuclear and Space Radiation Effects Conference (NSREC 2021), Jul 2021, Ottawa, Canada
IEEE Transactions on Nuclear Science
IEEE Transactions on Nuclear Science, 2022, 69 (3), pp.1-1. ⟨10.1109/TNS.2022.3149160⟩
IEEE Nuclear and Space Radiation Effects Conference (NSREC 2021), Jul 2021, Ottawa, Canada
IEEE Transactions on Nuclear Science
IEEE Transactions on Nuclear Science, 2022, 69 (3), pp.1-1. ⟨10.1109/TNS.2022.3149160⟩
International audience; We conducted a real-time soft-error rate characterization of CMOS bulk 65 nm SRAMs subjected to fusion neutrons during deuterium-deuterium (D-D) plasma operation at WEST tokamak. The test equipment, installed in the experiment
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::c12928b9127955de83704bfddddff4da
https://hal-amu.archives-ouvertes.fr/hal-03359535
https://hal-amu.archives-ouvertes.fr/hal-03359535
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
G. Gasiot, S.C. Lee, Daniel M. Fleetwood, Yuwei Li, M. Featherby, D. Johnson, Kenneth F. Galloway, Ronald D. Schrimpf, A. Raparla
Publikováno v:
IEEE Transactions on Nuclear Science. 47:2297-2304
Total dose effects in composite nitride-oxide (NO) films with nitride thicknesses from 58 nm to 183 nm and oxide thicknesses from 5 nm to 30 nm are studied. A model is proposed in order to relate the threshold-voltage shift to the NO thickness combin
Autor:
J. L. Ogier, Daniela Munteanu, Arnaud Regnier, J.L. Autran, S. Serre, P. Roche, S. Sauze, G. Gasiot, G. Just
Publikováno v:
2013 IEEE INTERNATIONAL RELIABILITY PHYSICS SYMPOSIUM (IRPS)
2013 IEEE INTERNATIONAL RELIABILITY PHYSICS SYMPOSIUM (IRPS), 2013, Monterey, United States. ⟨10.1109/IRPS.2013.6531992⟩
2013 IEEE INTERNATIONAL RELIABILITY PHYSICS SYMPOSIUM (IRPS), 2013, Monterey, United States. ⟨10.1109/IRPS.2013.6531992⟩
IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), Anaheim, CA, APR 14-18, 2013; International audience; This work reports the combined characterization at mountain altitude (on the ASTEP Platform at 2552 m) and at sea-level of more than simila
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::05955a5ff47f7808e018c5c3538a4f0a
https://hal.science/hal-01430082
https://hal.science/hal-01430082
Publikováno v:
2008 European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems.