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Autor:
G. F. Bauerfeldt, G. Arbilla
Publikováno v:
Química Nova, Vol 21, Iss 1, Pp 34-42 (1998)
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/4fd88f8afb2948d0a514081888c09a4d
Autor:
G. F. Bauerfeldt, G. Arbilla
Publikováno v:
Química Nova, Vol 21, Iss 1, Pp 25-33 (1998)
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/7daa03e56bbf46dd9fec805036e069f1
Autor:
G. F. Bauerfeldt, G. Arbilla
Publikováno v:
Química Nova, Vol 21, Iss 1, Pp 34-42 (1998)
Química Nova v.21 n.1 1998
Química Nova
Sociedade Brasileira de Química (SBQ)
instacron:SBQ
Química Nova, Volume: 21, Issue: 1, Pages: 34-42, Published: FEB 1998
Química Nova v.21 n.1 1998
Química Nova
Sociedade Brasileira de Química (SBQ)
instacron:SBQ
Química Nova, Volume: 21, Issue: 1, Pages: 34-42, Published: FEB 1998
In this work, a numerical modeling analysis of the gas-phase decomposition of SF6 / O2 mixtures, in the presence of silicon, was performed. The relative importance of individual processes and the effect of the parameters' uncertainties were determine
Autor:
Graciela Arbilla, G. F. Bauerfeldt
Publikováno v:
Química Nova, Vol 21, Iss 1, Pp 25-33 (1998)
Química Nova v.21 n.1 1998
Química Nova
Sociedade Brasileira de Química (SBQ)
instacron:SBQ
Química Nova, Volume: 21, Issue: 1, Pages: 25-33, Published: FEB 1998
Química Nova v.21 n.1 1998
Química Nova
Sociedade Brasileira de Química (SBQ)
instacron:SBQ
Química Nova, Volume: 21, Issue: 1, Pages: 25-33, Published: FEB 1998
The plasma etching of semiconductor surfaces with fluorine-containing compounds has technological interest. Presently, considerable effort is being devoted to understand the chemistry involved. In this work, a numerical modeling analysis of the gas-p