Zobrazeno 1 - 1 of 1 pro vyhledávání: '"G Kuper, Fred"'
1
Akademický článek
The influence of technology variation on ggNMOSTs and SCRs against CDM BSD stress
Autor: Sowariraj, M.S.B., Salm, Cora, Mouthaan, Ton, G Kuper, Fred, Smedes, Theo
Publikováno v: In Microelectronics Reliability 2002 42(9):1287-1292
Zobrazit plný text záznamu

Vyhledávací nástroje:

Upřesnit hledání

Omezení vyhledávání
Plný text Recenzováno Digitální knihovna AV ČR
Zdroje