Zobrazeno 1 - 10
of 23
pro vyhledávání: '"Fursenko, O.V."'
Autor:
Romanyuk, V.R., Kondratenko, O.S., Fursenko, O.V., Lytvyn, O.S., Zynyo, S.A., Korchovyi, A.A., Dmitruk, N.L.
Publikováno v:
In Materials Science & Engineering B 2008 149(3):285-291
Publikováno v:
In Vacuum 2001 61(2):123-128
Autor:
Dmitruk, N.L *, Ermolovich, I.B, Fursenko, O.V, Konakova, R.V, Milenin, V.V, Voitsikhovskyi, D.I, Yastrubchak, O.B
Publikováno v:
In Surface Science 2001 482 Part 2:928-934
This work is aimed at optical characterization of thin Au films by multiple-angle-of-incidence reflectance ellipsometry at the fixed wavelength (632.8 nm) in standard and attenuated total reflection (ATR) modes in contact with different dielectric me
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______1456::b7813765f98a62a2693631a932d13a26
http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/118041
http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/118041
Publikováno v:
Diffusion and Defect Data Part B: Solid State Phenomena; September 2003, Vol. 95 Issue: 1 p473-482, 10p
Publikováno v:
Diffusion and Defect Data Part B: Solid State Phenomena; December 1998, Vol. 63 Issue: 1 p347-352, 6p
Publikováno v:
Diffusion and Defect Data Part B: Solid State Phenomena; December 1998, Vol. 63 Issue: 1 p341-346, 6p
Publikováno v:
Microelectronics Journal; February 1996, Vol. 27 Issue: 1 p37-42, 6p
Kniha
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.