Zobrazeno 1 - 10
of 568
pro vyhledávání: '"Functional failure"'
Publikováno v:
International Journal of Prognostics and Health Management, Vol 15, Iss 2 (2024)
The paramountcy of Prognostics and Health Management (PHM) within the oil and gas sector is instrumental in ensuring safety, reliability, and economic efficiency by optimizing system availability. However, a prevalent industrial challenge is the lack
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/893a1584ef43466292647936d85ab033
Publikováno v:
Energy Reports, Vol 10, Iss , Pp 4629-4640 (2023)
Thermoelectric generator (TEG) is a thermoelectric conversion device that mainly utilizes the Seebeck effect, and the electrical energy generated is usually directly converted from thermal energy. However, research on the global sensitivity analysis
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/560e57dedd934e3baed29fe9dcc92791
Publikováno v:
Yuanzineng kexue jishu, Vol 57, Iss 3, Pp 600-608 (2023)
The prestress loss has a great influence on the integrity and tightness of the containment. As the service age of the containment increases, the prestress loss gradually increases. The operating experience of most nuclear power plants shows that the
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/5c658bf0edc5473097eefbae4e4f2c6f
Publikováno v:
Protection and Control of Modern Power Systems, Vol 8, Iss 1, Pp 1-15 (2023)
Abstract In feeder automation transformation there are difficulties in equipment and location selection. To help with this, an optimal layout model of feeder automation equipment oriented to the type of fault detection and local action is proposed. I
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/dfe3eabb7d0244e08710b5d4cea0fc86
Publikováno v:
The TQM Journal, 2021, Vol. 34, Issue 4, pp. 829-844.
Externí odkaz:
http://www.emeraldinsight.com/doi/10.1108/TQM-02-2021-0039
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
He jishu, Vol 45, Iss 11, Pp 110404-110404 (2022)
BackgroundCompared with transistors and small-scale integrated circuits, the total ionizing dose (TID) effect and testing of multifunctional large scale integrated microprocessors are more complex. The difficulty of testing is to analyze the failure
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/b3a4d3d1615c4e2daec542db1425a89e