Výsledky vyhledávání - "Funakawa, Shingo"

Akademický článek

Electron affinity and field emission characteristics of boron carbon nitride film

Autor: Kimura, Chiharu ^*, Okada, Kunitaka, Funakawa, Shingo, Sakata, Shinichiro, Sugino, Takashi

Publikováno v: In Diamond & Related Materials 2005 14(3):719-723

Zobrazit plný text záznamu

Akademický článek

Field emission characteristics of boron nitride nanofilms deposited on substrate with various work functions

Autor: Funakawa, Shingo, Yamamuro, Yutaka, Luo, Haitao, Sugino, Takashi ^*

Publikováno v: In Diamond & Related Materials 2004 13(4):994-998

Zobrazit plný text záznamu

Akademický článek

Tunneling controlled field emission of boron nitride nanofilm

Autor: Sugino, Takashi ^*, Kimura, Chiharu, Yamamoto, Tomohide, Funakawa, Shingo

Publikováno v: In Diamond & Related Materials 2003 12(3):464-468

Zobrazit plný text záznamu

Akademický článek

Field-emission characteristics of boron-carbon-nitride nanofilm.

Autor: Kimura, Chiharu, Shima, Hidekazu, Okada, Kunitaka, Funakawa, Shingo, Sugino, Takashi

Publikováno v: Journal of Vacuum Science & Technology: Part B-Microelectronics & Nanometer Structures; 2005, Vol. 23 Issue 5, p1948-1951, 4p

Zobrazit plný text záznamu

Akademický článek

Electron emission from boron nitride films deposited on patterned GaAs substrates.

Autor: Shima, Hidekazu, Funakawa, Shingo, Kimura, Chiharu, Sugino, Takashi

Publikováno v: Journal of Vacuum Science & Technology: Part B-Microelectronics & Nanometer Structures; 2005, Vol. 23 Issue 3, p1084-1087, 4p

Zobrazit plný text záznamu

Akademický článek

Field emission characteristics of BN nanofilms grown on GaN substrates.

Autor: Luo, Haitao, Funakawa, Shingo, Shen, Wenzhong, Sugino, Takashi

Publikováno v: Journal of Vacuum Science & Technology: Part B-Microelectronics & Nanometer Structures; 2004, Vol. 22 Issue 4, p1958-1963, 6p

Zobrazit plný text záznamu

Akademický článek

Electron field emission from boron nitride nanofilm and its application to graphite nanofiber.

Autor: Kimura, Chiharu, Yamamoto, Tomohide, Funakawa, Shingo, Hirakawa, Masaaki, Murakami, Hirohiko, Sugino, Takashi

Publikováno v: Journal of Vacuum Science & Technology: Part B-Microelectronics & Nanometer Structures; 2003, Vol. 21 Issue 5, p2212-2216, 5p

Zobrazit plný text záznamu