Zobrazeno 1 - 10 of 38 pro vyhledávání: '"Fulton, C. C."'
1
Akademický článek
Local bonding analysis of the valence and conduction band features of TiO2.
Autor: Fleming, L., Fulton, C. C., Lucovsky, G., Rowe, J. E., Ulrich, M. D., Lüning, J.
Publikováno v: Journal of Applied Physics; 8/1/2007, Vol. 102 Issue 3, p033707, 7p, 2 Charts, 6 Graphs
Zobrazit plný text záznamu
2
Akademický článek
Local bonding analysis of the valence and conduction band features of TiO2.
Autor: Fleming, L.1, Fulton, C. C.1, Lucovsky, G.1, Rowe, J. E.1, Ulrich, M. D.2, Lüning, J.3
Publikováno v: Journal of Applied Physics. 8/1/2007, Vol. 102 Issue 3, p033707. 7p. 2 Charts, 6 Graphs.
Zobrazit plný text záznamu
3
Akademický článek
Electronic properties of the Zr–ZrO2–SiO2–Si(100) gate stack structure.
Autor: Fulton, C. C., Lucovsky, G., Nemanich, R. J.
Publikováno v: Journal of Applied Physics; 3/15/2006, Vol. 99 Issue 6, p063708, 10p, 3 Diagrams, 4 Charts, 7 Graphs
Zobrazit plný text záznamu
4
Akademický článek
Thermal stability of TiO2, ZrO2, or HfO2 on Si(100) by photoelectron emission microscopy.
Autor: Zeman, M. C., Fulton, C. C., Lucovsky, G., Nemanich, R. J., Yang, W.-C.
Publikováno v: Journal of Applied Physics; 1/15/2006, Vol. 99 Issue 2, p023519, 6p, 4 Black and White Photographs, 1 Chart
Zobrazit plný text záznamu
5
Akademický článek
Structural, microstructural, and electrical properties of gold films and Schottky contacts on remote plasma-cleaned, n-type ZnO{0001} surfaces.
Autor: Coppa, B. J., Fulton, C. C., Kiesel, S. M., Davis, R. F., Pandarinath, C., Burnette, J. E., Nemanich, R. J., Smith, D. J.
Publikováno v: Journal of Applied Physics; 5/15/2005, Vol. 97 Issue 10, p103517-1-103517-13, 13p, 6 Charts, 10 Graphs
Zobrazit plný text záznamu
6
Akademický článek
Interface instabilities and electronic properties of ZrO2 on silicon (100).
Autor: Fulton, C. C., Cook Jr., T. F., Lucovsky, G., Nemanich, R. J.
Publikováno v: Journal of Applied Physics; 9/1/2004, Vol. 96 Issue 5, p2665-2673, 9p, 1 Diagram, 4 Charts, 8 Graphs
Zobrazit plný text záznamu
7
Akademický článek
Measurement of the band offsets of SiO[sub 2] on clean n- and p-type GaN(0001).
Autor: Cook, T. E., Fulton, C. C., Mecouch, W. J., Tracy, K. M., Davis, R. F., Hurt, E. H., Lucovsky, G., Nemanich, R. J.
Publikováno v: Journal of Applied Physics; 4/1/2003, Vol. 93 Issue 7, p3995, 10p, 2 Charts, 11 Graphs
Zobrazit plný text záznamu
8
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
9
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
10
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Vyhledávací nástroje:

Upřesnit hledání

Omezení vyhledávání
Plný text Recenzováno Digitální knihovna AV ČR
Zdroje