Zobrazeno 1 - 10
of 38
pro vyhledávání: '"Fujito S"'
Publikováno v:
Science, 1955 Jan . 121(3133), 43-47.
Externí odkaz:
https://www.jstor.org/stable/1682214
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Chichibu, S. F., Kagaya, M., Corfdir, Pierre Michel, Ganière, Jean-Daniel, Deveaud-Plédran, Benoît, Grandjean, Nicolas, Kubo, S., Fujito, S.
Advantages and remaining issues of state-of-the-art m-plane freestanding GaN (FS-GaN) substrates grown by halide vapor phase epitaxy (HVPE) for m-plane InGaN epitaxial film growth by metalorganic vapor phase epitaxy are described. Because of the low
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od_______185::01e18997ebf2d41adbb07c45e8fdfb39
https://infoscience.epfl.ch/record/174104
https://infoscience.epfl.ch/record/174104
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.