Zobrazeno 1 - 10
of 26
pro vyhledávání: '"Friedmann, J.B."'
Publikováno v:
1999 IEEE International Symposium on Semiconductor Manufacturing Conference Proceedings (Cat No99CH36314); 1999, p399-402, 4p
Publikováno v:
2nd International Symposium on Plasma Process-Induced Damage; 1997, p131-134, 4p
Publikováno v:
Proceedings of 1st International Symposium on Plasma Process-Induced Damage; 1996, p188-191, 4p
Publikováno v:
IEEE Transactions on Plasma Science; 1991, Vol. 19 Issue 1, p47-51, 5p
Thin-oxide charging damage to microelectronic test structures in an electron-cyclotron-resonance....
Autor:
Friedmann, J.B., Shohet, J.L.
Publikováno v:
Applied Physics Letters; 12/18/1995, Vol. 67 Issue 25, p3718, 3p, 4 Diagrams, 2 Graphs
Publikováno v:
IEEE Conference Record - Abstracts 1997 IEEE International Conference on Plasma Science; 1997, p233-234, 2p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.