Zobrazeno 1 - 10
of 120
pro vyhledávání: '"Freeouf, J.L."'
Autor:
Heeg, T., Wagner, M., Schubert, J., Buchal, Ch., Boese, M., Luysberg, M., Cicerrella, E., Freeouf, J.L.
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 17 June 2005 80:150-153
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 2004 72(1):288-293
Publikováno v:
Extended Abstracts of International Workshop on Gate Insulator (IEEE Cat. No.03EX765); 2003, p112-118, 7p
Publikováno v:
Applied Physics Letters; 2/23/2004, Vol. 84 Issue 8, p1389-1391, 3p, 2 Diagrams, 1 Graph
Autor:
Freeouf, J.L.
Publikováno v:
Applied Surface Science; January 1990, Vol. 41 Issue: 1 p323-328, 6p
Autor:
Iyer, S.S., Solomon, P.M., Kesan, V.P., Bright, A.A., Freeouf, J.L., Nguyen, T.N., Warren, A.C.
Publikováno v:
IEEE Electron Device Letters; 1991, Vol. 12 Issue 5, p246-248, 3p
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
LEOS 1991 Summer Topical Meetings on Epitaxial Materials & In-Situ Processing for Optoelectronic Devices Photonics & Optoelectronics; 1991, p27-28, 2p
Publikováno v:
Proceedings of 1993 IEEE International SOI Conference; 1993, p16-17, 2p