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Autor:
Franken, Ronald.
Zugl.: Berlin, TU, Diss., 2008 u.d.T.: Franken, Ronald: Support-Vektor-Maschinen und statistische neuronale Netze im Data Mining und Datenqualitätsmanagement am Beispiel der Analyse der Unternehmenssolvenz.
Autor:
Franken, Ronald
Zugl.: Berlin, Techn. Univ., Diss., 2008
Externí odkaz:
http://d-nb.info/991906802/04
http://deposit.d-nb.de/cgi-bin/dokserv?id=3203216&prov=M&dok_var=1&dok_ext=htm
http://deposit.d-nb.de/cgi-bin/dokserv?id=3203216&prov=M&dok_var=1&dok_ext=htm
Publikováno v:
In Solar Energy Materials and Solar Cells 2009 93(3):338-349
Autor:
Franken, Ronald
Die Prognose der Insolvenzgefährdung von Unternehmen anhand statistischer Methodik war und ist eine bedeutende Aufgabe empirischer Forschung. Eine Möglichkeit der Beurteilung der finanziellen bzw. wirtschaftlichen Verfassung von Unternehmen stellt
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od_______133::7cd72225bb9c9cfea91a14c5d08c57fd
http://edoc.hu-berlin.de/18452/4715
http://edoc.hu-berlin.de/18452/4715
Autor:
Heijna, Maurits C. R., Löffler, Jochen, Van Aken, Bas B., Soppe, Wim J., van Erven, Rob, Franken, Ronald, Borg, Herman, Peeters, Patrick P. G. J. M.
Publikováno v:
Proceedings of SPIE; Nov2008, Issue 1, p704706-704706-9, 9p
Publikováno v:
MRS Online Proceedings Library; 2008, Vol. 1101 Issue 1, p1-10, 10p
Autor:
Li, Hongbo, Franken, Ronald H. J., Stolk, Robert L., van der Werf, C. H. M., Schuttauf, Jan-Willem A., Rath, Jatin K., Schropp, Ruud E. I.
Publikováno v:
MRS Online Proceedings Library; 2007, Vol. 989 Issue 1, p1-6, 6p
Autor:
Schropp, Ruud E. I., Li, Hongbo, Franken, Ronald H. J., Rath, Jatindra K., van der Werf, Karine, Schüttauf, Jan Willem, Stolk, Robert L.
Publikováno v:
MRS Online Proceedings Library; 2007, Vol. 989 Issue 1, p1-6, 6p
Autor:
Stolk, Robert L., Li, Hongbo, Franken, Ronald H., Van der Werf, Karine H. M., Rath, Jatindra K., Schropp, Ruud E. I.
Publikováno v:
MRS Online Proceedings Library; 2006, Vol. 910 Issue 1, p1-6, 6p
Autor:
Dross, Frederic, Franken, Ronald H., Singh, Sukhvinder, van Kerschaver, Emmanuel, Beaucarne, Guy, Mertens, Robert
Publikováno v:
2008 33rd IEEE Photovoltaic Specialists Conference; 2008, p1-3, 3p