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Publikováno v:
Revista de Ciencias Sociales, Vol 29, Iss 1 (2023)
La convivencia entre el puerto y la ciudad que lo alberga se puede estudiar desde diferentes ángulos, sin embargo, el factor social y su vínculo con el desarrollo de la población joven podría ser un elemento importante en estos tiempos de cambio.
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/8b50c0cb7f0d4e088823c24771990df9
Autor:
Frank Santos, Jocilene Santana, Joseneusa Brilhante Rodrigues, Izaac Cabral Neto, Alan Pereira da Costa, Vladimir Cruz de Medeiros, Rogério Cavalcante
Publikováno v:
Journal of the Geological Survey of Brazil, Vol 4, Iss 3 (2021)
This paper presents a review of available lithostratigraphic and isotopic data, in addition to other information collected from projects of the Geological Survey of Brazil (SGB-CPRM), for the Rio Piranhas-Seridó Domain (PSD). This domain is one of t
Publikováno v:
Economía y Administración (E&A). 11:25-38
La eficiente administración de los recursos del Estado es un tema que en los últimos años ha tomado gran importancia más en los países latinoamericanos y especialmente Centroamérica. La relación de seguridad ciudadana y la eficiente administra
Publikováno v:
Revista de Ciencias Sociales (13159518); ene-mar2023, Vol. 29 Issue 1, p312-327, 16p
Autor:
Frank, Santos, Cardona, Francisco
This book has been written with the purpose of explaining all about Droughts and Precipitation.
Autor:
Frank, Santos
Chapter 1 - Drought Chapter 2 - Sahel Drought Chapter 3 -2010 Sahel Famine Chapter 4 - Drought in Australia Chapter 5 -1911–1916 Australian Drought Chapter 6 -1979–1983 Eastern Australian Drought Chapter 7 - Drought in the United States Chapter 8
Autor:
John L. Sturtevant, Mike Pochkowski, John Miller, Craig W. MacNaughton, Frank Santos, Chris A. Mack, Moshe E. Preil, John A. Allgair, Michelle Ivy, Kevin D. Lucas, John C. Robinson, Richard C. Elliott
Publikováno v:
SPIE Proceedings.
One-dimensional linewidth alone is an inadequate metric for low-k1 lithography. Critical Dimension metrology and analysis have historically focused on 1-dimensional effects but with low-k1 lithography is has increasingly been found that the process w
Autor:
Stephen J. Marples, David M. Goodstein, John Miller, John A. Allgair, Gong Chen, Frank Santos
Publikováno v:
SPIE Proceedings.
Rapidly accelerating technology roadmaps have put increased pressure on in-line process control. CDs measured by automated SEMs are a common element of in-line process control. However, CD measurements alone may not be enough in all cases for adequat
Conference
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