Zobrazeno 1 - 10
of 1 244
pro vyhledávání: '"Four-point probe resistivity"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Bulletin of the Polish Academy of Sciences: Technical Sciences, Vol 68, Iss No. 1, Pp 135-140 (2020)
This paper concerns measurements and calculations of low frequency noise for semiconductor layers with four-probe electrodes. The measurements setup for the voltage noise cross-correlation method is described. The gain calculations for local resistan
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/c6089ef534ef4a689d9f7cd73315485d
Publikováno v:
Bulletin of the Polish Academy of Sciences: Technical Sciences. Feb2020, Vol. 68 Issue 1, p135-140. 6p.
Autor:
Ilse, Klemens1, Tänzer, Tommy1, Hagendorf, Christian1, Turek, Marko1 marko.turek@csp.fraunhofer.de
Publikováno v:
Journal of Applied Physics. 2014, Vol. 116 Issue 22, p224509-1-224509-7. 7p. 1 Diagram, 8 Graphs.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Farhana, Sams, Weekes, Jebari, Hossain, Sahadat, Melikechi, Noureddine, Fluman, Daniel, Rana, Mukti M.
Publikováno v:
Proceedings of the International Conference on Waste Technology & Management; 2013, p453-463, 11p
The sheet resistance of thin film structures is commonly measured using a four-point-probe setup and involves the application of geometrical correction factors depending on the sample geometry and electrode pitch. The characterization of small thin f
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::54c22ff0718089239c49b7afd9acbefb
https://publica.fraunhofer.de/handle/publica/238313
https://publica.fraunhofer.de/handle/publica/238313
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.