Zobrazeno 1 - 10
of 9 371
pro vyhledávání: '"Four-point probe method"'
Autor:
Mehner, Thomas1 (AUTHOR) thomas.lampke@mb.tu-chemnitz.de, Lampke, Thomas1 (AUTHOR)
Publikováno v:
Materials (1996-1944). Sep2023, Vol. 16 Issue 17, p6000. 15p.
Autor:
Beltrán-Pitarch, Braulio, Guralnik, Benny, Lamba, Neetu, Stilling-Andersen, Andreas R., Nørregaard, Lars, Hansen, Torben M., Hansen, Ole, Pryds, Nini, Nielsen, Peter F., Petersen, Dirch H.
Publikováno v:
In Materials Today Physics February 2023 31
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
In Materials and Design May 2012 37:161-165
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Química Nova, Vol 26, Iss 5, Pp 754-756 (2003)
This paper describes the construction of an eletrical current source and of a probe to be used in the measurement of eletrical conductivity through a four-point probe method. These pieces of equipments can be obtained at the low price of US$ 50.00 an
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/02f41bfbb74544b48338386ba66f5a22
Publikováno v:
Journal of Electrical Engineering & Technology. 16:2265-2273
A thin film thickness meter was developed that is essential for thin film thickness management in the manufacturing process of flat panel displays such as touch panels and touch screens. The thickness measurement method of the meter is based on four-
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::a60823a6992585f2b58827c26be654d9
https://doi.org/10.1007/s42835-021-00725-5
https://doi.org/10.1007/s42835-021-00725-5
Autor:
Suci Winarsih, Hirofumi Tanaka, Faisal Budiman, Bambang Soegijono, Tadashi Adachi, Budhy Kurniawan, Isao Watanabe, Takayuki Goto
Publikováno v:
Key Engineering Materials. 860:142-147
We report the results of the resistivity measurement on La2-xSrxCuO4 nanoparticles with x = 0, 0.05, and 0.20 evaluated by the four-point probe method. The high resistivity value shows the predominance of the inter-grain part. The temperature depende
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::accbbe84ae4df3fb21461f507461fd78
https://doi.org/10.4028/www.scientific.net/kem.860.142
https://doi.org/10.4028/www.scientific.net/kem.860.142