Zobrazeno 1 - 10
of 240
pro vyhledávání: '"Fortuna V"'
Autor:
Aubry-Fortuna, V., Dollfus, P.
Electron transport in Ge at various temperatures down to 20 mK has been investigated using particle Monte Carlo simulation taking into account ionized impurity and inelastic phonon scattering. The simulations account for the essential features of ele
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/1010.0961
Publikováno v:
Solid State Electronics 49 (8), 1320-1329 (2005)
Based on Monte Carlo simulation, we report the study of the inversion layer mobility in n-channel strained Si/ Si1-xGex MOS structures. The influence of the strain in the Si layer and of the doping level is studied. Universal mobility curves mueff as
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/cond-mat/0411340
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Millán, O., Rafael-Valdivia, L., Torrademé, E., López, A., Fortuna, V., Sánchez-Cabus, S., López-Púa, Y., Rimola, A., Brunet, M.
Publikováno v:
In Cytokine February 2013 61(2):556-564
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Palestri, P., Alexander, C., Asenov, A., Aubry-Fortuna, V., Baccarani, G., Bournel, A., Braccioli, M., Cheng, B., Dollfus, P., Esposito, A., Esseni, D., Fenouillet-Beranger, C., Fiegna, C., Fiori, G., Ghetti, A., Iannaccone, G., Martinez, A., Majkusiak, B., Monfray, S., Peikert, V., Reggiani, S., Riddet, C., Saint-Martin, J., Sangiorgi, E., Schenk, A., Selmi, L., Silvestri, L., Toniutti, P., Walczak, J.
Publikováno v:
In Solid State Electronics 2009 53(12):1293-1302
Autor:
Neves-Amorim, E. G., Santos, S. Q., Araújo-Pereira, M., Santana, Z. V. B., Bomfim, E. K. S., Chagas, N. M. B. L., Conceição, R. R., Freire, M. D. M., Torres, A. J. L., Fortuna, V., de Carvalho, G. C., Meyer, J. R., Freire, S. M., Freire, A. N. M.
Publikováno v:
Nutrire; 8/15/2022, Vol. 47 Issue 2, p1-8, 8p
Publikováno v:
ТHE SOURCES OF PEDAGOGICAL SKILLS; № 17 (2016); 24-28
Витоки педагогічної майстерності; № 17 (2016); 24-28
Витоки педагогічної майстерності; № 17 (2016); 24-28
The article deals with the estimative‐reflective orientation of personality as a quality that unites the ability to find professionally and personally relevant information to satisfy the cognitive interests , the ability to critically analyze their
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=scientific_p::05cf11b5326edf9071ce993a50338a5c
http://sources.pnpu.edu.ua/article/view/209891
http://sources.pnpu.edu.ua/article/view/209891
Publikováno v:
In Solid State Electronics 2007 51(4):543-550