Zobrazeno 1 - 10
of 372
pro vyhledávání: '"Fornaciari, W."'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
In IFAC Proceedings Volumes 2012 45(7):37-42
Publikováno v:
2019 International Conference on Embedded Software (EMSOFT)
2019 International Conference on Embedded Software (EMSOFT), Oct 2019, NEW YORK, United States
2019 International Conference on Embedded Software (EMSOFT), Oct 2019, NEW YORK, United States
International audience; The probabilistic approaches for real-time systems are based on the estimation of the probabilistic-WCET distribution. Such estimation is naturally subject to errors, caused by both systematic and estimation uncertainties. To
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::9b1fc67dee11e8bfa88952ebcd4d1a25
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02901350/document
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02901350/document
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Zoni, D., Canidio, A., Fornaciari, W., Englezakis, Panayiotis, Nicopoulos, Chrysostomos A., Sazeides, Yiannakis
Publikováno v:
Journal of Parallel and Distributed Computing
J.Parallel Distrib.Comput.
J.Parallel Distrib.Comput.
The Network-on-Chip (NoC) router buffers play an instrumental role in the performance of both the interconnection fabric and the entire multi-/many-core system. Nevertheless, the buffers also constitute the major leakage power consumers in NoC implem
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::ca7b224b57a3fa7dce4a69f63e279c8c
http://hdl.handle.net/11311/1009229
http://hdl.handle.net/11311/1009229
Autor:
Zompakis, Nikolaos, Noltsis, Michail, Ndreu, L., Hadjilambrou, Zacharias, Englezakis, Panayiotis, Nikolaou, Panagiota, Portero, Antoni, Libutti, S., Massari, Giuseppe, Sassi, F., Bacchini, A., Nicopoulos, Chrysostomos A., Sazeides, Yiannakis, Vavrik, R., Golasowski, M., Sevcik, J., Vondrak, V., Catthoor, F., Fornaciari, W., Soudris, Dimitrios J.
Publikováno v:
DATE
Proceedings of the 2017 Design, Automation and Test in Europe, DATE 2017
20th Design, Automation and Test in Europe, DATE 2017
Proceedings of the 2017 Design, Automation and Test in Europe, DATE 2017
20th Design, Automation and Test in Europe, DATE 2017
Continuously increasing application demands on both High Performance Computing (HPC) and Embedded Systems (ES) are driving the IC manufacturing industry on an everlasting scaling of devices in silicon. Nevertheless, integration and miniaturization of
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::fe0af4864075a14126fddfd17f4f6097
http://hdl.handle.net/11311/1027598
http://hdl.handle.net/11311/1027598
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.