Zobrazeno 1 - 10 of 34 pro vyhledávání: '"Flanders, D. C."'
2
Akademický článek
PROGRESS IN THE FABRICATION OF ARTIFICIAL MICROSTRUCTURES FOR X-RAY IMAGING AND SPECTROSCOPY*.
Autor: Flanders, D. C., Shaver, D. C., Hawryluk, A. M., Smith, Henry I.
Publikováno v: Annals of the New York Academy of Sciences; 1980, Vol. 342 Issue 1, p203-212, 10p
Zobrazit plný text záznamu
3
Akademický článek
Reactive ion etching of indium compounds using iodine containing plasmas.
Autor: Flanders, D. C., Pressman, L. D., Pinelli, G.
Publikováno v: Journal of Vacuum Science & Technology: Part B-Microelectronics Processing & Phenomena; 1990, Vol. 8 Issue 6, p1990-1993, 4p
Zobrazit plný text záznamu
4
Akademický článek
Masked ion beam resist exposure using grid support stencil masks.
Autor: Randall, J. N., Flanders, D. C., Economou, N. P., Donnelly, J. P., Bromley, E. I.
Publikováno v: Journal of Vacuum Science & Technology: Part B-Microelectronics Processing & Phenomena; 1985, Vol. 3 Issue 1, p58-61, 4p
Zobrazit plný text záznamu
5
Akademický článek
A precision wide-range optical gap measurement technique.
Autor: Flanders, D. C., Lyszczarz, T. M.
Publikováno v: Journal of Vacuum Science & Technology: Part B-Microelectronics Processing & Phenomena; 1983, Vol. 1 Issue 4, p1196-1199, 4p
Zobrazit plný text záznamu
6
Akademický článek
Generation of <50 nm period gratings using edge defined techniques.
Autor: Flanders, D. C., Efremow, N. N.
Publikováno v: Journal of Vacuum Science & Technology: Part B-Microelectronics Processing & Phenomena; 1983, Vol. 1 Issue 4, p1105-1108, 4p
Zobrazit plný text záznamu
7
Akademický článek
Silicon nitride stencil masks for high resolution ion lithography proximity printing.
Autor: Randall, J. N., Flanders, D. C., Economou, N. P., Donnelly, J. P., Bromley, E. I.
Publikováno v: Journal of Vacuum Science & Technology: Part B-Microelectronics Processing & Phenomena; 1983, Vol. 1 Issue 4, p1152-1155, 4p
Zobrazit plný text záznamu
8
Akademický článek
Graphoepitaxy of germanium on gratings with square-wave and sawtooth profiles.
Autor: Geis, M. W., Tsaur, B-Y., Flanders, D. C.
Publikováno v: Applied Physics Letters; 1982, Vol. 41 Issue 6, p526-529, 4p
Zobrazit plný text záznamu
9
Akademický článek
Replication of 175-Å lines and spaces in polymethylmethacrylate using x-ray lithography.
Autor: Flanders, D. C.
Publikováno v: Applied Physics Letters; 1980, Vol. 36 Issue 1, p93-96, 4p
Zobrazit plný text záznamu

Vyhledávací nástroje:

Upřesnit hledání

Omezení vyhledávání
Plný text Recenzováno Digitální knihovna AV ČR
Zdroje