Zobrazeno 1 - 10
of 33
pro vyhledávání: '"Fitch, Robert C."'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Chabak, Kelson D., McCandless, Jonathan P., Moser, Neil A., Green, Andrew J., Mahalingam, Krishnamurthy, Crespo, Antonio, Hendricks, Nolan, Howe, Brandon M., Tetlak, Stephen E., Leedy, Kevin, Fitch, Robert C., Wakimoto, Daiki, Sasaki, Kohei, Kuramata, Akito, Jessen, Gregg H.
Publikováno v:
IEEE Electron Device Letters; Jan2018, Vol. 39 Issue 1, p67-70, 4p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Leedy, Kevin D., Chabak, Kelson D., Vasilyev, Vladimir, Tetlak, Stephen E., Crespo, Antonio, Thomson, Darren B., Fitch, Robert C., Jessen, Gregg H., Look, David C., Boeckl, John J., Brown, Jeff L., Green, Andrew J., McCandless, Jonathan P., Moser, Neil A.
Publikováno v:
Applied Physics Letters; 7/3/2017, Vol. 111 Issue 1, p1-4, 4p
Autor:
Green, Andrew Joseph, Chabak, Kelson D., Baldini, Michele, Moser, Neil, Gilbert, Ryan, Fitch, Robert C., Wagner, Gunter, Galazka, Zbigniew, Mccandless, Jonathan, Crespo, Antonio, Leedy, Kevin, Jessen, Gregg H.
Publikováno v:
IEEE Electron Device Letters; Jun2017, Vol. 38 Issue 6, p790-793, 4p