Zobrazeno 1 - 10 of 19 pro vyhledávání: '"Fischer, A. E. M. J."'
1
Akademický článek
Growth of uniform epitaxial CoSi2 films on Si(111).
Autor: Fischer, A. E. M. J., Slijkerman, W. F. J., Nakagawa, K., Smith, R. J., van der Veen, J. F., Bulle-Lieuwma, C. W. T.
Publikováno v: Journal of Applied Physics; 9/15/1988, Vol. 64 Issue 6, p3005, 9p, 2 Black and White Photographs, 2 Diagrams, 7 Graphs
Zobrazit plný text záznamu
2
Akademický článek
Formation of the Ni-SiC(001) interface studied by high-resolution ion backscattering.
Autor: Slijkerman, W. F. J., Fischer, A. E. M. J., van der Veen, J. F., Ohdomari, I., Yoshida, S., Misawa, S.
Publikováno v: Journal of Applied Physics; 7/15/1989, Vol. 66 Issue 2, p666, 8p
Zobrazit plný text záznamu
3
Akademický článek
The thin-film reaction between Ti and thermally grown SiO2.
Autor: Barbour, J. C., Fischer, A. E. M. J., van der Veen, J. F.
Publikováno v: Journal of Applied Physics; 9/15/1987, Vol. 62 Issue 6, p2582, 3p
Zobrazit plný text záznamu
4
Akademický článek
Summary Abstract: Structure characterization of silicide-silicon interfaces.
Autor: Fischer, A. E. M. J.
Publikováno v: Journal of Vacuum Science & Technology: Part A-Vacuums, Surfaces & Films; 1988, Vol. 6 Issue 3, p2094-2095, 2p
Zobrazit plný text záznamu
6
Kniha
Physical Properties of Surface Silicides.
Publikováno v: Surface & Interface Science, Volume 3: Properties of Composite Surfaces: Alloys, Compounds, Semiconductors; 2013, p177-228, 52p
Zobrazit plný text záznamu
7
Akademický článek
A damascene platform for controlled ultra-thin nanowire fabrication.
Autor: Guilmain, M., Labbaye, T., Dellenbach, F., Nauenheim, C., Drouin, D., Ecoffey, S.
Publikováno v: Nanotechnology; 2013, Vol. 24 Issue 24, p1-8, 8p
Zobrazit plný text záznamu
8
Akademický článek
Lattice parameter determination of a strained area of an InAs layer on a GaAs substrate using CBED.
Autor: Takayuki Akaogi, Kenji Tsuda, Masami Terauchi, Michiyoshi Tanaka
Publikováno v: Journal of Electron Microscopy; Vol. 53 Issue 1, p11-19, 9p
Zobrazit plný text záznamu
9
Akademický článek
Effect of microstructural and interface modifications on electrical properties of molybdenum silicide thin films formed by rapid thermal annealing.
Autor: Srinivas, G, Vankar, V D
Publikováno v: Semiconductor Science & Technology; 1997, Vol. 12 Issue 4, p419-426, 8p
Zobrazit plný text záznamu

Vyhledávací nástroje:

Upřesnit hledání

Omezení vyhledávání
Plný text Recenzováno Digitální knihovna AV ČR
Zdroje