Zobrazeno 1 - 10
of 51
pro vyhledávání: '"Finkelstein, W."'
Damage in thin (10 nm) oxide layers of metal-oxide-semiconductor varactor cells caused by exposures with ions, electrons, and X-rays has been electrically characterized by constant-current stress time-dependent dielectric breakdown and capacitance-vo
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od_______610::02ecfc96d6a43ac24338ab228338de24
https://publica.fraunhofer.de/handle/publica/186015
https://publica.fraunhofer.de/handle/publica/186015
Publikováno v:
Journal of Vacuum Science & Technology: Part B-Microelectronics & Nanometer Structures; 1995, Vol. 13 Issue 6, p2561-2564, 4p
Autor:
Chalupka, A., Stengl, G., Buschbeck, H., Lammer, G., Vonach, H., Fischer, R., Hammel, E., Löschner, H., Nowak, R., Wolf, P., Finkelstein, W., Hill, R. W., Berry, I. L., Harriott, L. R., Melngailis, J., Randall, J. N., Wolfe, J. C., Stroh, H., Wollnik, H., Mondelli, A. A.
Publikováno v:
Journal of Vacuum Science & Technology: Part B-Microelectronics & Nanometer Structures; 1994, Vol. 12 Issue 6, p3513-3517, 5p
Publikováno v:
Microelectronic Engineering; February 1995, Vol. 27 Issue: 1-4 p323-326, 4p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Finkelstein, W., Kudra, O.
Publikováno v:
Zeitschrift für Physikalische Chemie; May 1927, Vol. 131 Issue: 1 p338-346, 9p
Publikováno v:
The Journal of Experimental Medicine; October 1954, Vol. 100 Issue: 4 p371-380, 10p
Autor:
Bright, W. M., Miller, E. L., ZoBell, C. E., Rittenberg, S. C., Wulff, P., Lazar, O., Meyling, A. H., Voiret, E. G., Kauko, Y., Airola, A., Harmer, W. J., Cameron, A. E., Schwabe, K., Parsy, G., Krjukow, P. A., Krjukow, A. A., Bender, H., Pye, D. J., Dallemagne, M. J., Haugaard, G., Dole, M., Wiener, B. Z., Gabbard, J. L., Amis, E. S., Powney, J., Jordan, D. O., Finkelstein, W. S., Tartakowski, I. S., Hitchcock, D. I., Taylor, Alice C., Ilarned, H. S., Ehlers, R. W., Nims, L. F., Owen, B. B., Rosenthal, R., Lorch, A. E., Hammett, L. P.
Publikováno v:
Fresenius' Journal of Analytical Chemistry; September 1939, Vol. 118 p322-332, 11p
Publikováno v:
Hemoglobin; 1999, Vol. 23 Issue 3, p299-301, 3p
Publikováno v:
Journal of Vacuum Science & Technology: Part B-Microelectronics & Nanometer Structures; 1997, Vol. 15 Issue 6, p2355-2357, 3p