Zobrazeno 1 - 10
of 106
pro vyhledávání: '"Fillinger, L"'
Autor:
Quétel, C., Marinesque, S., Ringler, D., Fillinger, L., Changeux, T., Marteau, C., Troussellier, M.
Publikováno v:
In Acta Oecologica April 2016 72:1-8
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
In Journal of Sound and Vibration 2008 318(3):527-548
Autor:
Es, M.H. van, Mohtashami, A., Piras, D., Hatakeyama, K., Quesson, B.A.J., Fillinger, L., Neer, P.L.M.J.
While Atomic Force Microscopy is mostly used to investigate surface properties, people have almost since its invention sought to apply its high resolution capability to image also structures buried within samples. One of the earliest techniques for t
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::00c0664137f167810a9a3684ce76af38
http://resolver.tudelft.nl/uuid:28007560-6868-4538-9b01-193c48661ddf
http://resolver.tudelft.nl/uuid:28007560-6868-4538-9b01-193c48661ddf
Publikováno v:
SID Semicon Innovation Day, Science Centre Delft, 21 May 2019
In order to make stiffness based subsurface AFM a quantitative imaging modality, the experimental subsurface measurement must be interpreted with a versatile forward (and inverse) model. We have developed a fully parametric finite element model frame
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::cd26d5683d16f0472c422c2b4a1c60bc
http://resolver.tudelft.nl/uuid:3e5c56a0-63a9-4f7d-a0a5-5edaf1b9200d
http://resolver.tudelft.nl/uuid:3e5c56a0-63a9-4f7d-a0a5-5edaf1b9200d
Publikováno v:
SID Semicon Innovation Day, Science Centre Delft, 21 May 2019
The TNO Optomechatronics Department is developing various Scanning Probe Microscopy (SPM) techniques, including Sub-surface Atomic Force Microscopy (AFM), as a way to address challenges for nondestructive quality control of optically opaque samples.
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::30950408f671a23e0684cd5a28dd31c7
http://resolver.tudelft.nl/uuid:38b4711a-82df-43fb-8635-db0dbb69091a
http://resolver.tudelft.nl/uuid:38b4711a-82df-43fb-8635-db0dbb69091a
Publikováno v:
SID Semicon Innovation Day, Science Centre Delft, 21 May 2019
Imaging of nanoscale structures buried in a covering material is an extremely challenging task, but is also considered extremely important. From fundamental research into living cells structures, to process control in semiconductor manufacturing, man
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::f49779715f69e7313d399bcce6509e97
http://resolver.tudelft.nl/uuid:c03343cb-a80d-4731-a050-4ae63c4eeee0
http://resolver.tudelft.nl/uuid:c03343cb-a80d-4731-a050-4ae63c4eeee0
Publikováno v:
Hydrol. Wasserbewirtsch. 62, 378-386 (2018)
Grundwasser ist wichtiger Rohstoff und Lebensraum für eine vielfältige Organismengemeinschaft. Zur Bewertung und Überwachung von Grundwasserökosystemen bedarf es daher, ähnlich wie für Oberflächengewässer, geeigneter Bioindikatoren und innova
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______3474::98aa7bfc6bc47458af036b3ceca65da2
https://push-zb.helmholtz-muenchen.de/frontdoor.php?source_opus=55012
https://push-zb.helmholtz-muenchen.de/frontdoor.php?source_opus=55012
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Acoustical Physics. Oct2009, Vol. 55 Issue 4/5, p630-637. 8p. 1 Black and White Photograph, 5 Graphs.