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pro vyhledávání: '"Fiabilité des oxydes ultra-minces (SiO2)"'
Autor:
Goguenheim, Didier
Ce manuscrit expose des travaux effectués entre 1994 et 2004 sur la fiabilité des composants à base de structures MOS et la fiabilité des oxydes ultra-minces de SiO2 (Nos études sur les porteurs chauds nous ont aussi amené à étudier la fiabil
