Zobrazeno 1 - 10
of 60
pro vyhledávání: '"Felix, C. L."'
Publikováno v:
Philosophical Transactions: Mathematical, Physical and Engineering Sciences, 2001 Mar . 359(1780), 489-503.
Externí odkaz:
https://www.jstor.org/stable/3066285
Autor:
McAlpine, T. C., Greene, K. R., Santilli, M. R., Olafsen, L. J., Bewley, W. W., Felix, C. L., Vurgaftman, I., Meyer, J. R., Lee, H., Martinelli, R. U.
Publikováno v:
Journal of Applied Physics; 11/1/2004, Vol. 96 Issue 9, p4751-4754, 4p, 1 Diagram, 5 Graphs
Autor:
Bewley, W.W., Vurgaftman, I., Felix, C. L., Meyer, J. R., Lin, C.-H., Zhang, D., Murry, S. J., Pei, S. S., Ram-Mohan, L. R.
Publikováno v:
Journal of Applied Physics; 3/1/1998, Vol. 83 Issue 5, p2384, 8p, 1 Chart, 10 Graphs
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Felix, C. L., Vurgaftman, I., Bewley, W. W., Bartolo, R. E., Lindle, J. R., Meyer, J. R., Lee, H., Martinelli, R. U.
Publikováno v:
Journal of Modern Optics. 4/15/2002, Vol. 49 Issue 5/6, p801-810. 10p. 2 Diagrams, 4 Graphs.
Autor:
Vurgaftman, I., Bewley, W. W., Felix, C. L., Aifer, E. H., Meyer, J. R., Goldberg, L., Chow, D. H., Selvig, E.
Publikováno v:
MRS Online Proceedings Library; 1997, Vol. 484 Issue 1, p95-100, 6p
Autor:
Sherwin, Mark S., Asmar, N., Bewley, William W., Craig, Keith, Felix, C. L., Galdrikian, B., Gwinn, Elisabeth G., Markelz, Andrea G., Gossard, Arthur C., Hopkins, P. F., Sundaram, Mani, Birnir, Bjorn
Publikováno v:
Proceedings of SPIE; Nov1993, Issue 1, p36-47, 12p
Autor:
Yang, M. J., Meyer, J. R., Bewley, W. W., Felix, C. L., Vurgaftman, I., Barvosa-Carter, W., Whitman, L. J., Bartolo, R. E., Stokes, D. W., Lee, H.
Publikováno v:
Optical Materials; 2001, Vol. 17 Issue: 1 p179-183, 5p
Autor:
Lin, C.-H., Murry, S. J., Zhang, D., Chang, P. C., Zhou, Y., Pei, S. S., Malin, J. I., Felix, C. L., Meyer, J. R., Hoffman, C. A.
Publikováno v:
Journal of Crystal Growth; 1997, Vol. 175 Issue: 2 p955-959, 5p
Autor:
Lin, Chih-Hsiang, Chang, P. C., Murry, S. J., Zhang, D., Yang, Rui Q., Pei, S. S., Malin, J. I., Meyer, J. R., Felix, C. L., Lindle, J. R., Goldberg, L., Hoffman, C. A., Bartoli, E. J.
Publikováno v:
Journal of Electronic Materials; May 1997, Vol. 26 Issue: 5 p440-443, 4p