Zobrazeno 1 - 10
of 958
pro vyhledávání: '"Fault grading"'
Autor:
André Xavier Matos
The objective of this thesis is to study the different methods, tools, architectures that could be applicable to a mixed-signal product in order to increase the stuck@ coverage over the digital circuit part of the respective product, taking into cons
Externí odkaz:
https://hdl.handle.net/10216/134653
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
IEEE Access, Vol 7, Pp 63578-63587 (2019)
The adoption of complex and technologically advanced integrated circuits (ICs) in safety-critical applications (e.g., in automotive) forced the introduction of new solutions to guarantee the achievement of the required reliability targets. One of the
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/fa66f5c9562e434baff988e46fe7cea9
Publikováno v:
Dans Design, Automation and Test in Europe - DATE'05, Munich : Allemagne (2005)
Very deep submicron and nanometer technologies have increased notably integrated circuit (IC) sensitiveness to radiation. Soft errors are currently appearing into ICs working at earth surface. Hardened circuits are currently required in many applicat
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/0710.4757
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
2022 IEEE Computer Society Annual Symposium on VLSI (ISVLSI).
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::c4f0290a72991abfaf18412bd60afcb1
https://doi.org/10.1109/isvlsi54635.2022.00074
https://doi.org/10.1109/isvlsi54635.2022.00074
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
2014 International Conference on Electronics, Communication and Computational Engineering (ICECCE).
Structural test is the most efficient test to detect manufacturing defects. With ever increasing complexity of digital designs, structural test vectors alone are not sufficient to achieve the desired fault coverage. Functional test vectors are progra
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::f0857c260fbb1eebc470de61f0e9c8a2
https://doi.org/10.1109/icecce.2014.7086633
https://doi.org/10.1109/icecce.2014.7086633
Autor:
Neophytou, S. N., Michael, Maria K.
Publikováno v:
Proceedings-2015 20th IEEE European Test Symposium, ETS 2014
ETS
ETS
The high accuracy of the Path Delay Fault model (PDF) is usually sidelined by its high complexity since the number of possible faults can become exponential to the circuit size (even when only critical faults are considered). Thus, fault simulation m
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::8cbfe30ad2624207c25f9d84db1f6f70
http://gnosis.library.ucy.ac.cy/handle/7/44334
http://gnosis.library.ucy.ac.cy/handle/7/44334