Zobrazeno 1 - 10
of 272
pro vyhledávání: '"Faulkner, C. C."'
Publikováno v:
Science, 2005 Sep 01. 309(5741), 1688-1692.
Externí odkaz:
https://www.jstor.org/stable/3843814
Autor:
Allwood, D. A., Xiong, Gang, Cooke, M. D., Faulkner, C. C., Atkinson, D., Vernier, N., Cowburn, R. P.
Publikováno v:
Science, 2002 Jun . 296(5575), 2003-2006.
Externí odkaz:
https://www.jstor.org/stable/3076997
Publikováno v:
Journal of Applied Physics; Apr2008, Vol. 103 Issue 7, p073914, 4p
Publikováno v:
Journal of Applied Physics; 6/15/2004, Vol. 95 Issue 12, p8264-8270, 7p, 1 Black and White Photograph, 3 Diagrams, 6 Graphs
Autor:
Fowley, C., Diao, Z., Faulkner, C. C., Kally, J., Ackland, K., Behan, G., Zhang, H. Z., Deac, A. M., Coey, J. M. D.
Publikováno v:
Journal of Physics D: Applied Physics 46(2013), 195501
We use a focused helium ion beam microscope to controllably remove material from Pt-capped thin film multilayers with perpendicular magnetic anisotropy. The dose range required to remove several nm of the cap layer is the same as that required to ind
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______4577::0148d8089a9596e98f69c67e01933672
https://www.hzdr.de/publications/Publ-18191-1
https://www.hzdr.de/publications/Publ-18191-1
Autor:
Khanna, Nitin1 (AUTHOR), Tamrakar, Raunak Kumar1 (AUTHOR) raunak.ruby@gmail.com, Tiwari, Samit1 (AUTHOR), Upadhyay, Kanchan1 (AUTHOR)
Publikováno v:
Reviews in Inorganic Chemistry. Jun2024, Vol. 44 Issue 2, p167-190. 24p.
Autor:
Fowley, C., Diao, Z., Faulkner, C. C., Kally, J., Ackland, K., Behan, G., H. Z. Zhang, Deac, A. M., Coey, J. M. D.
Publikováno v:
Journal of Physics D: Applied Physics; 2013, Vol. 46 Issue 19, p1-6, 6p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Review of Scientific Instruments; Feb2005, Vol. 76 Issue 2, p026105, 3p