Zobrazeno 1 - 10
of 44
pro vyhledávání: '"Faltermeier, J."'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Kawasaki, H., Basker, V.S., Yamashita, T., Lin, C.-H., Zhu, Y., Faltermeier, J., Schmitz, S., Cummings, J., Kanakasabapathy, S., Adhikari, H., Jagannathan, H., Kumar, A., Maitra, K., Wang, J., Yeh, C.-C., Wang, C., Khater, M., Guillorn, M., Fuller, N., Chang, J.
Publikováno v:
2009 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM); 2009, p1-4, 4p
Autor:
Haran, B.S., Kumar, A., Adam, L., Chang, J., Basker, V., Kanakasabapathy, S., Horak, D., Fan, S., Chen, J., Faltermeier, J., Seo, S., Burkhardt, M., Burns, S., Halle, S., Holmes, S., Johnson, R., McLellan, E., Levin, T.M., Zhu, Y., Kuss, J.
Publikováno v:
2008 IEEE International Electron Devices Meeting; 2008, p1-4, 4p
Autor:
Yang, B., Takalkar, R., Ren, Z., Black, L., Dube, A., Weijtmans, J.W., Li, J., Johnson, J.B., Faltermeier, J., Madan, A., Zhu, Z., Turansky, A., Xia, G., Chakravarti, A., Pal, R., Chan, K., Reznicek, A., Adam, T.N., de Souza, J.P., Harley, E.C.T.
Publikováno v:
2008 IEEE International Electron Devices Meeting; 2008, p1-4, 4p
Autor:
Wang, G., Cheng, K., Ho, H., Faltermeier, J., Kong, W., Kim, H., Cai, J., Tanner, C., McStay, K., Balasubramanyam, K., Pei, C., Ninomiya, L., Li, X., Winstel, K., Dobuzinsky, D., Naeem, M., Zhang, R., Deschner, R., Brodsky, M.J., Allen, S.
Publikováno v:
2006 International Electron Devices Meeting; 2006, p1-4, 4p
Autor:
Gluschenkov, O., Benedict, J., Clevenger, L. A., DeHaven, P., Dziobkowski, C., Faltermeier, J., Lin, C., McStay, I., Wong, K.
Publikováno v:
MRS Online Proceedings Library; 2000, Vol. 611 Issue 1, p1-6, 6p
Autor:
Radens, C.J., Kudelka, S., Nesbit, L., Malik, R., Dyer, T., Dubuc, C., Joseph, T., Seitz, M., Clevenger, L., Arnold, N., Mandelman, J., Divakaruni, R., Casarotto, D., Lea, D., Jaiprakash, V.C., Sim, J., Faltermeier, J., Low, K., Strane, J., Halle, S.
Publikováno v:
International Electron Devices Meeting 2000. Technical Digest. IEDM (Cat. No.00CH37138); 2000, p349-352, 4p
Autor:
Rengarajan, R., Weybright, M., Faltermeier, J., Butt, S., Lee, H., Slisher, D., Ronsheim, P., Murphy, C.S., Dellow, M., Divakaruni, R.
Publikováno v:
29th European Solid-State Device Research Conference; 1999, Issue 1, p536-539, 4p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Proceedings of the IEEE 1998 International Interconnect Technology Conference (Cat No98EX102); 1998, p259-261, 3p