Zobrazeno 1 - 8
of 8
pro vyhledávání: '"Faitová, Hana"'
Autor:
Faitová, Hana
Atomic force microscopy (AFM) is a young and widely used method of ima- ging surface, nanostructures, biological and other sensitive objects using sharp tip on a flexible cantilever scanning the sample surface. When operating in air it reaches resolu
Externí odkaz:
http://www.nusl.cz/ntk/nusl-368123
Autor:
Tiagulskyi, Stanislav, Yatskiv, Roman, Faitová, Hana, Černohorský, Ondřej, Vaniš, Jan, Grym, Jan
Publikováno v:
In Physica E: Low-dimensional Systems and Nanostructures February 2022 136
Publikováno v:
In Materials Science in Semiconductor Processing 1 March 2020 107
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Faitová, Hana
Atomic force microscopy (AFM) is a young and widely used method of ima- ging surface, nanostructures, biological and other sensitive objects using sharp tip on a flexible cantilever scanning the sample surface. When operating in air it reaches resolu
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______2186::8814dd7363e5c402138e1e24da3a3ce3
http://www.nusl.cz/ntk/nusl-368123
http://www.nusl.cz/ntk/nusl-368123
Autor:
Faitová, Hana
Atom force microscopy (AFM) is a widely used imaging method of solids' surface structure. Collecting the information about relief is realized by a very sharp tip fixed on a flexible cantilever. The surface is scanned by this tip and the flexion of th
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______2186::68ae26004a808ee3607c498543bfc441
http://www.nusl.cz/ntk/nusl-349302
http://www.nusl.cz/ntk/nusl-349302