Zobrazeno 1 - 3
of 3
pro vyhledávání: '"FET 4-point measurements"'
Autor:
Gyumin Lim, Kenneth David Kihm, Hong Goo Kim, Woorim Lee, Woomin Lee, Kyung Rok Pyun, Sosan Cheon, Phillip Lee, Jin Young Min, Seung Hwan Ko
Publikováno v:
Nanomaterials, Vol 8, Iss 7, p 557 (2018)
The grain size of CVD (Chemical Vapor Deposition) graphene was controlled by changing the precursor gas flow rates, operation temperature, and chamber pressure. Graphene of average grain sizes of 4.1 µm, 2.2 µm, and 0.5 µm was synthesized in high
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/24385b3b06944b559cbf2786c4ed57aa
Autor:
Seung Hwan Ko, Hong Goo Kim, Woorim Lee, Gyumin Lim, Sosan Cheon, Phillip Lee, Jin Young Min, Kyung Rok Pyun, Woomin Lee, Kenneth David Kihm
Publikováno v:
Nanomaterials, Vol 8, Iss 7, p 557 (2018)
Nanomaterials
Volume 8
Issue 7
Nanomaterials
Volume 8
Issue 7
The grain size of CVD (Chemical Vapor Deposition) graphene was controlled by changing the precursor gas flow rates, operation temperature, and chamber pressure. Graphene of average grain sizes of 4.1 µ
m, 2.2 µ
m, and 0.5 µ
m, 2.2 µ
m, and 0.5 µ
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::c048d42db5dce54dc24ba5ae6907fa73
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.