Zobrazeno 1 - 2
of 2
pro vyhledávání: '"F.N. Bens"'
Publikováno v:
28th International Reliability Physics Symposium.
The effects of temperature, electric field, and the number of polarization reversals on ferroelectric memory aging are analyzed on ferroelectric capacitors and memory products. The signal loss proceeds linearly with the log of time. A relationship be
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::e29419db65701c85308f9159ec06b26d
https://doi.org/10.1109/irps.1990.363527
https://doi.org/10.1109/irps.1990.363527
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.