Zobrazeno 1 - 4
of 4
pro vyhledávání: '"F. Yashar"'
Autor:
Ratnesh Lal, Stuart C. Feinstein, F. Yashar, G. Gurley, Virgil B. Elings, D. Grigg, Paul K. Hansma, Craig Prater, Barney Drake
Publikováno v:
Journal of Applied Physics. 76:796-799
A new optical‐lever based atomic force microscope is described in which the cantilever scans and is accurately tracked by a scanning focused spot. It can operate at forces below one nanoNewton over image areas greater than 100 μ×100 μ. It can be
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::871277923c8deb00927db75761b0eb86
https://doi.org/10.1063/1.357751
https://doi.org/10.1063/1.357751
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.