Zobrazeno 1 - 2
of 2
pro vyhledávání: '"F. Wallingford"'
Publikováno v:
International Symposium for Testing and Failure Analysis.
The continually shrinking dimensions of today’s semiconductor technology occasionally allow for novel approaches in imaging defects. It has become desirable to image subsurface voids prior to cross sectioning and some efforts have been made to addr
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::f011ce72dccbc91e8c62cb60052be3f9
https://doi.org/10.31399/asm.cp.istfa2007p0103
https://doi.org/10.31399/asm.cp.istfa2007p0103
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.