Zobrazeno 1 - 10
of 256
pro vyhledávání: '"F. Templier"'
Autor:
F. Templier, J. Bernard
Publikováno v:
SID Symposium Digest of Technical Papers. 50:240-243
Autor:
Gilles Bagou, Sybille Goddet, Christine Potiron, F. Templier, Philippe Pes, Emmanuel Montassier, François Javaudin, Arnaud Legrand, Valérie Hamel
Publikováno v:
Scandinavian Journal of Trauma, Resuscitation and Emergency Medicine, Vol 27, Iss 1, Pp 1-7 (2019)
Scandinavian Journal of Trauma, Resuscitation and Emergency Medicine
Scandinavian Journal of Trauma, Resuscitation and Emergency Medicine
Background In France, while most babies are delivered at hospital, emergency medical services (EMS) weekly manage calls for unplanned out-of-hospital births. The objective of our study was to describe neonatal morbidity and mortality, defined as deat
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
David Henry, T. Catelain, F. Templier, Alain Gueugnot, S. Bisotto, L. Mathieu, F. Marion, Frédéric Berger
Publikováno v:
2016 IEEE 66th Electronic Components and Technology Conference (ECTC).
This paper highlights the limits that may be encountered when thermally assembling large chips having substantial mismatches of their thermal expansion coefficient (CTE). First, a theory is proposed that shows the size limitation of "emitting" or "im
Publikováno v:
SID Symposium Digest of Technical Papers. 49:271-271
Autor:
Yves Leterrier, Piet Bouten, Jan-Anders E. Månson, Albert Pinyol, P.H.M. Timmermans, Damien Gilliéron, F. Templier
Publikováno v:
Engineering Fracture Mechanics. 77:660-670
The crack onset strain (COS) of 4-level thin film transistor (TFT) devices on both steel foils and thin polyimide (PI) films was investigated using tensile experiments carried out in situ in an optical microscope. Cracks initiated first within the Si
Autor:
F Thys, F Templier
Publikováno v:
EMC - Médecine d 'urgence. 3:1-17
Publikováno v:
Thin Solid Films. 515:6890-6898
The cohesive and adhesive properties, and related critical radius of curvature of thin multilayer insulator coatings on a 152 μm thick flexible steel substrate were investigated using tensile experiments carried out in-situ in an optical microscope.