Zobrazeno 1 - 10
of 21
pro vyhledávání: '"F. Talkenberg"'
Autor:
K.K. Dikhanbayev, V.A. Sivakov, F. Talkenberg, G.K. Mussabek, Ye.T. Taurbayev, N.N. Tanatov, E. Shabdan
Publikováno v:
Physical Sciences and Technology, Vol 2, Iss 2 (2016)
In this paper we consider the formation on the surface of silicon by metal-induced chemical etching, the silicon nanowires and the study of their electron (SEM) and (TEM) microscopy, X-ray diffraction (EDX) analysis and electron backscatter diffracti
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/bc0b9b6782a546a4990d482128a51740
Autor:
G.K. Mussabek, К.К. Dikhanbayev, V. Sivakov, F. Talkenberg, S. Sailaubek, А.S. Djunusbekov, G.Ye. Ukenova, А.Ye. Kemelbekova
Publikováno v:
Physical Sciences and Technology, Vol 2, Iss 1 (2016)
Thin films of aluminum-doped zinc oxide (AZO) were prepared using magnetron sputtering and atomic layer deposition (ALD) techniques. Atomic force microscopy (AFM) studies of AZO films surface morphology show that the surface of produced by ALDfilms i
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/030fd5d1f2e745bda389b86294a8a6cd
Autor:
G.K. Mussabek, F. Talkenberg, К.К. Dikhanbayev, А.Ye. Kemelbekova, S. Sailaubek, V. Sivakov, G.Ye. Ukenova, А.S. Djunusbekov
Publikováno v:
Physical Sciences and Technology. 2:18-23
Thin films of aluminum-doped zinc oxide (AZO) were prepared using magnetron sputtering and atomic layer deposition (ALD) techniques. Atomic force microscopy (AFM) studies of AZO films surface morphology show that the surface of produced by ALDfilms i
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::3ee1668215012067b7cc1f4233702336
https://doi.org/10.26577/2409-6121-2015-2-1-18-23
https://doi.org/10.26577/2409-6121-2015-2-1-18-23
Publikováno v:
Surface and Coatings Technology. 221:158-162
Alumina (Al 2 O 3 ), silicon dioxide (SiO 2 ) and titanium dioxide (TiO 2 ) films were examined for their suitability as a protection coating for micro-fabricated cesium vapor cells. The layers were deposited by atomic layer deposition (ALD). This te
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::76d873337153d0e1eb16eceeb0c52afd
https://doi.org/10.1016/j.surfcoat.2013.01.044
https://doi.org/10.1016/j.surfcoat.2013.01.044
Reflectivity enhanced refractive index sensor based on a fiber-integrated Fabry-Perot microresonator
Publikováno v:
Optics express. 22(21)
We discuss a fiber-integrated refractive index sensor with strongly improved detection performance. The resonator has been implemented by means of focused-ion beam milling of a step index fiber and shows a sensitivity of about 1.15µm/RIU. Coating th
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::53cc5317b30886e8fdcb5582e6100530
https://pubmed.ncbi.nlm.nih.gov/25401567
https://pubmed.ncbi.nlm.nih.gov/25401567
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
V. SIVAKOV, F. VOIGT, F. TALKENBERG, B. HOFFMANN, G. BRÖNSTRUP, M. SCHREIVOGEL, A. BOCHMANN, M. KULMAS, G. BAUER, M. PIETSCH, S. CHRISTIANSEN
Publikováno v:
Scopus-Elsevier
Two different growth modes of fabrication of Si nanowires were explored: vapor-liquidsolid growth and wet chemical etching. The morphology and structure of single crystalline nanowires with respect to their crystallographic orientation was analyzed b
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::cff1e57185bb5f11d8fd71860d73edd8
http://www.scopus.com/inward/record.url?eid=2-s2.0-84874731979&partnerID=MN8TOARS
http://www.scopus.com/inward/record.url?eid=2-s2.0-84874731979&partnerID=MN8TOARS
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.