Zobrazeno 1 - 4
of 4
pro vyhledávání: '"F. Schaurich"'
Autor:
Paulo Fernando Papaleo Fichtner, M. F. Beaufort, F. Schaurich, Shay Reboh, J. F. Barbot, A.A.D. de Mattos
Publikováno v:
Scripta Materialia. 65:1045-1048
We report on the exfoliation mechanisms in light gas implanted Si. Microstructure characterization, extensive statistical analysis and solid mechanics theory show that exfoliation is caused by microcracks growing close to equilibrium pressure for hig
Autor:
M. F. Beaufort, Nikolay Cherkashin, J. F. Barbot, F. Schaurich, Alain Declémy, Paulo Fernando Papaleo Fichtner, Shay Reboh
Publikováno v:
Journal of Applied Physics
Journal of Applied Physics, 2010, 108 (2), pp.023502. ⟨10.1063/1.3459884⟩
Journal of Applied Physics, American Institute of Physics, 2010, 108 (2), pp.023502. ⟨10.1063/1.3459884⟩
Journal of Applied Physics, 2010, 108 (2), pp.023502. ⟨10.1063/1.3459884⟩
Journal of Applied Physics, American Institute of Physics, 2010, 108 (2), pp.023502. ⟨10.1063/1.3459884⟩
International audience; We report on the microstructure of silicon coimplanted with hydrogen and helium ions at moderate energies. X-ray diffraction investigations in as-implanted samples show the direct correlation between the lattice strain and imp
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.